Ga verder naar de inhoud
Over.Werk Externe auteurs

Functieprofielenmethodiek om het effect van technologie op werk in kaart te brengen

22 dec. 2017 — P. Oeij - W. van der Torre - H. van de Ven - C. van Horssen

Onderzoeksthema

Beroepen

Referentie

Oeij, P., van der Torre, W., van de Ven, H., & van Horssen, C. (2017). Functieprofielenmethodiek om het effect van technologie op werk in kaart te brengen. Over.Werk. Tijdschrift van het Steunpunt Werk, 27(2), 26-32. Leuven: Steunpunt Werk / Uitgeverij Acco.